主要設備
設備紹介
技術研究所では最先端の設備と蓄積されたノウハウを使って、高度な研究活動を支えています。また、これらの基盤技術を活用し、矢崎グループのものづくりを支える技術支援活動も行っています。
材料評価・解析装置
X線光電子分光分析装置（XPS）
物質表面（数ナノメートル）の組成や化学結合状態の分析
具体例：
電線被覆材に用いる充填剤（フィラー）の改質表面の官能基の解析
電界放出形走査電子顕微鏡（FE-SEM）
物質表面や断面の微細な構造や形状の高解像観察および元素分析や結晶構造解析
具体例：
異種金属接合界面に形成した金属間化合物の解析や複合材料の接着界面の解析
デュアルビーム装置（FIB/SEM）
物質内部の3次元構造や断面解析、ナノスケールの加工および観察
透過型電子顕微鏡薄片の試料作製
具体例：
電気接点の多層めっき構造の観察および元素分析
透過型電子顕微鏡（TEM）
原子レベルの解像度での試料内部の形態観察、構造解析および組成分析
具体例：
金属接合界面に形成した金属間化合物の観察および相の同定
マトリックス支援レーザー脱離イオン化質量分析装置
（MALDI-MS）
有機化合物の質量測定による元素組成分析、組成解析
具体例：
プラスチックを構成する分子鎖（ポリマー）の質量における差や変化を用いた、製造方法や熱履歴などの解析
フーリエ変換核磁気共鳴装置（FT-NMR）
有機化合物内の水素や炭素の配置の測定および構造解析
具体例：
ポリブチレンテレフタレート（PBT）の水素配置の分析による劣化（加水分解）度合いの解析
液体クロマトグラフ－飛行時間型質量分析装置（LC-TofMS）
溶液中に混合された化合物の分離および化合物毎の含有量測定
具体例：
プラスチック中に含まれる酸化防止剤や紫外線防止剤の濃度測定
レーザアブレーション誘導結合プラズマ質量分析装置（LA-ICP/MS）
固体試料の微量元素のマッピング分析（元素の濃度分布を二次元的に表示）
具体例：
電線被覆材に浸透した元素の分布に二次元的可視化
レーザーラマン顕微鏡
物質を構成する分子固有の波長（スペクトル）を用いた物質の成分や特性の定量的・定性的分析
具体例：
物質の相対量、層の厚さ（単層から数百nm）
結晶化度、状態（圧縮/伸長）、温度
電磁環境両立性（EMC）評価設備
大型電波暗室（1基）、車載部品用電波暗室(２基)
主な用途：
車載部品・民生/産業機器・車両のEMC試験
各種国際規格・OEMプライベート規格に対応
ALSE法、TEMセル法、近接照射、BCI法など
設備仕様・機器:
5面電波暗室、10m法対応
EMIレシーバ、アンテナ、RFパワーアンプ、ターンテーブル
アンテナ評価用電波暗室
主な用途：
アンテナからの意図的放射パターン測定
設備仕様・機器:
６面電波暗室、ネットワークアナライザ
周波数 700MHz～28GHz
シールドルーム
主な用途：
電子製品の近傍電磁界分布の計測及び可視化によるEMC解析
設備仕様・機器:
EMIテスタ、ネットワークアナライザ
